Oberflächen- und Schichtreferenzmaterialien

ERM^®-EG001 Zertifikat, Bericht, (BAM-L001/IRMM-302), Antimon implantiert in Silicium

BAM-L200 Zertifikat, Bericht, Streifenmuster für die Bestimmung der lateralen Auflösung und die Kalibrierung der Längenskala im Nanometerbereich
BAM-L100 Zertifikat, Bericht, Titan (Ti) Aluminium (Al) Mehrschichtsystem auf 100Cr6 Stahlsubstrat
BAM-L101 Zertifikat, Bericht, Titandioxid (TiO₂) Siliciumdioxid (SiO₂) Mehrschichtsystem auf BK7 Glas
BAM-L102 Zertifikat, Bericht, Titannitrid (TiN) Einzelschicht
BAM-L103 Zertifikat, Bericht, Vanadiumnitrid (VN) Einzelschicht
BAM-L104 Zertifikat, Bericht, Titancarbid (TiC) Einzelschicht
BAM-L105 Zertifikat, Bericht, Vanadiumkarbid (VC) Einzelschicht

EDS-TM001 Infoblatt, Testmaterial zur Bestimmung der Eigenschaften von energiedispersiven Röntgenspektrometern am REM
EDS-TM001 mit Software Infoblatt, Testmaterial und Software zur Bestimmung der Eigenschaften von energiedispersiven Röntgenspektrometern am REM

RM Zertifikate und Berichte | Referenzmaterialien | Preisliste

2012-02-07

Ansprechpartner:

Antimon implantiert in Silicium

Dr. rer. nat.
Uwe Reinholz
Richard-Willstätter-Straße 11
12489 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-4110
E-Mail:
Uwe.Reinholz@bam.de

Ti / Al Mehrfachschichten TiO2 / SiO2 Mehrfachschichten TiN-, VN-, TiC-, VC- Einfachschichten

Dr. rer. nat.
Uwe Beck
Unter den Eichen 44-46
12203 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-1821
E-Mail:
Uwe.Beck@bam.de

Streifenmuster für die Längenkalibrierung und die Bestimmung der lateralen Auflösung im Nanometerbereich

Dr. Mathias Senoner
Unter den Eichen 44-46
12203 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-3564
E-Mail:
mathias.senoner@bam.de

Testmaterial zur Bestimmung der Eigenschaften von energiedispersiven Röntgenspektrometern am REM

Dr. Vasile-Dan Hodoroaba
Unter den Eichen 44-46
12203 Berlin
Telefon:
+49 30 8104-3144
E-Mail:
dan.hodoroaba@bam.de